基体及不均匀效应是造成手持式光谱仪X射线强度高低的根本原因

　　1、基体效应

　　基体效应有吸收效应和增强效应的吸收效应，基体对入射x射线的吸收和荧光x射线的吸收。这是因为用放射线激励试样时，不仅作用于试样表面，还可以透过一定的厚度进入试样内部。另外，试样内部的分析元素产生的荧光x射线也必须透过一定厚度的试样才能射出。在透射过程中，这两种x射线均会因基体元素的吸收而导致辐射强度减弱，辐射减弱会影响对分析元素的激发效率。

　　当入射x射线激发基质元素产生的荧光x射线波长略短于分析元素吸收端时，分析元素产生二次荧光x射线，分析元素的荧光x射线强度增强。这就是基质的增强效果。

　　吸收效应占主导地位时分析结果较低，增强效应占主导地位时分析结果较高。

　　2、不均匀效应

　　不均匀效应是指样品颗粒大小不均匀，样品表面光泽度对荧光x射线强度的影响。在粉末样品中，大粒子的吸收效果强，小粒子的吸收效果弱，因此为了降低x射线的吸收，要求尽量减小粒子的粒度。测量短波x射线时，粒度要求250目以上，测量波长大于0.2nm的长波x射线时，粒度要求400目以上。

　　固体试样必须研磨，粉末试样必须压实使表面平滑。表面粗糙会明显降低荧光x射线的强度。测量短波x射线时，光泽度为1005m左右，测量长波x射线时，光泽度为20-50Mm。